在使用厚度測量儀器的時候，在正常的操作過程中，有時會發(fā)現(xiàn)測量的數(shù)據(jù)與實際的要求有所偏差，或者是測量次數(shù)多了，數(shù)據(jù)的比較會發(fā)生小許的變化，這是什么原因造成的呢？針對用戶的問題，南北潮商城在實際的經(jīng)驗以及和客戶的溝通中總結(jié)一下9點影響厚度測量儀器精準度的因素供各位參考。
一、基體厚度
在進行覆層厚度測量時 ，對被測樣品的薄厚有基本的要求，要給出一個基體的既定最小厚度值，能夠全部將探頭的磁場包裹在被測樣品的金屬中。 所給出的既定最小厚度值與被測樣品的性質(zhì)有關(guān)，大于這個厚度，測量就不受基體金屬厚度的影響，不用再修整所測量的結(jié)果。 如果基體的厚度達不到標準，所檢測到的數(shù)據(jù)就會有偏差，就不是最精準的，這種情況下就需要使用同材質(zhì)的物體緊貼在被測樣品上再進行測量。 每一種儀器都有一個基體金屬的臨界厚度。
二、邊界距離
當探頭與被測樣品邊界 、孔眼 、空腔 、其他截面變化處的距離小于規(guī)定的邊界距離時， 由于渦流載體截面不夠?qū)a(chǎn)生測量誤差。 因此，在靠近被測樣品邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進行測量是不可靠的。 如果必須測量該點的覆層厚度時，需預先在相同條件的無覆層表面進行校準。
三、曲率半徑
被測樣品的曲率半徑對測量結(jié)果有影響 。 隨著被測樣品曲率半徑的減小， 對測量結(jié)果的影響明顯增大，因
此，在彎曲樣品的表面上進行測量是不可靠的。
四、表面粗糙度
粗糙表面會引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差 ，每次測量時，在不同位置上應增加測量的次數(shù)，以克服這種偶然誤差。 在粗糙表面上為獲得一個有代表性的平均測量值必須進行多次測量才行。 顯而易見，不論是基體或是覆層，越粗糙，測量值越不可靠。 基體金屬和覆蓋層的粗糙度越大，對測量結(jié)果的影響就越大。 為獲得可靠的測量數(shù)據(jù)，基體的平均粗糙度 Ra 應小于覆層厚度的 5%。
五、表面清潔度
應去除表面的雜質(zhì) 、 油污等 ， 以保證儀器測頭和被測試件表面能夠直接接觸。
六、探頭壓力
探頭置于試件上 ，所施加的壓力大小會影響測量的讀數(shù)。 理論上講，探頭進行檢測時所使用的力應該是一成不變的， 但實際測量過程中由于操作者的不同或操作者的經(jīng)驗不足，往往不能嚴格保持檢測時所使用的力一成不變。 因此，改變力應盡量最小化，這樣對于軟的覆蓋層才不會出現(xiàn)變形情況，導致檢測數(shù)據(jù)不準確。 需要時，可以在探頭以及被檢測物體之間增加具有相當厚度的絕緣的硬性薄膜， 在檢測結(jié)果中減掉薄膜的厚度就能夠得到想要的結(jié)果。
七、探頭方向
探頭的放置方式對測量有影響 。 在測量過程中，應當使探頭與被測樣品表面保持垂直。
八、磁場
周圍各種電氣設備所產(chǎn)生的強磁場會嚴重地干擾磁性法測厚工作。 測量應該避免在有干擾作用的外界磁場附近開展，根據(jù)檢測儀器的性能、殘存的剩磁可能導致或多或少的測量誤差， 但是結(jié)構(gòu)鋼、 深沖成形鋼板等一般不會出現(xiàn)上述現(xiàn)象。
九、覆層材料中的鐵磁成分和導電成分
磁性法測厚受基體金屬磁性變化的影響。 為了避免受到熱處理和冷加工因素的影響， 應使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標準片對儀器進行校準，亦可用待涂覆試件進行校準。
