1 引言
測量轉(zhuǎn)子速度的方法很多，但多數(shù)比較復(fù)雜[1]。目前，測量轉(zhuǎn)速的方法主要有四種[2]：機械式、電磁式、光電式和激光式。機械式主要利用離心力原理，通過一個隨軸轉(zhuǎn)動的固定質(zhì)量重錘帶動自由軸套上下運動，根據(jù)不同轉(zhuǎn)速對應(yīng)不同軸套位置獲得測量結(jié)果原理簡單直接，不需額外電器設(shè)備，適用于精度要求不高、接觸式的轉(zhuǎn)速測量場合。電磁式系統(tǒng)由電磁傳感器和安裝在軸上的齒盤組成，主軸轉(zhuǎn)動帶動齒盤旋轉(zhuǎn)，齒牙通過傳感器時引起電路磁阻變化，經(jīng)過放大整形后形成脈沖，通過脈沖得到轉(zhuǎn)速值。由于受齒盤加工精度、齒牙最小分辨間隔、電路最大計數(shù)頻率等限制，測量精度不能保證。光電式結(jié)構(gòu)類似于電磁式結(jié)構(gòu)，把旋轉(zhuǎn)齒盤換作光電編碼盤或黑白相間的反射條紋，把電磁傳感器換作光電接收器，通過對反射回來的光脈沖信號計數(shù)得到測量結(jié)果。由于受條紋最小分辨間隔、電路最大計數(shù)頻率等限制，測量精度不能保證，所測轉(zhuǎn)速值和電磁式一樣為兩個計數(shù)脈沖間距的平均值。激光測速技術(shù)(LDV)是一種正在發(fā)展中的測速技術(shù)，通過激光多普勒效應(yīng)獲得轉(zhuǎn)動體的瞬時角速度，理論上具有很高的瞬時轉(zhuǎn)速測量精度，但目前實際產(chǎn)品精度不夠高，并且價格昂貴，在實際使用上受到限制。通過改進(jìn)已有的電磁式傳感器，設(shè)計一種適于瞬時轉(zhuǎn)速測量的新型傳感器，在旋轉(zhuǎn)機械瞬時狀態(tài)分析中具有一定的實際意義。
本文以傳統(tǒng)的電磁式系統(tǒng)為基礎(chǔ)，研制一種使用紅外輻射技術(shù)的新型轉(zhuǎn)速測量儀，安裝方便，對周圍環(huán)境要求不高，可以很容易地完成轉(zhuǎn)速的測量。具有較寬的動態(tài)測量范圍，測量精度較高。
2 系統(tǒng)設(shè)計
測速系統(tǒng)總體結(jié)構(gòu)如圖1所示，主要包括紅外測速傳感器（由紅外發(fā)射與接收電路和齒盤組成）、信號處理電路、單片機以及數(shù)字顯示部分。其工作過程如下：當(dāng)齒盤旋轉(zhuǎn)時，由于輪齒的遮擋，紅外發(fā)射管與接收管之間的紅外線光路時斷時續(xù)，信號處理電路將此變化的光信號轉(zhuǎn)換為電脈沖信號，一個脈沖信號即表示齒盤轉(zhuǎn)過一個齒。單片機對脈沖進(jìn)行計數(shù)，同時通過其內(nèi)部的計時器對接收一定數(shù)目的脈沖計時，根據(jù)脈沖數(shù)目及所用時間就可計算出齒盤的轉(zhuǎn)速，最后通過數(shù)字顯示部分將轉(zhuǎn)速顯示出來。
2.1 系統(tǒng)硬件設(shè)計
根據(jù)紅外測速的原理，系統(tǒng)的電路設(shè)計如圖2所示。
本系統(tǒng)采用AT89C52單片機，它是美國ATMEL公司生產(chǎn)的低電壓，高性能CMOS8位單片機，片內(nèi)含8KB的可反復(fù)擦寫的FLASH程序存儲器和256B的隨機數(shù)據(jù)存儲器（RAM），器件采用ATMEL公司的高密度、非易失性存儲技術(shù)生產(chǎn)，與標(biāo)準(zhǔn)MS-51指令系統(tǒng)及8052產(chǎn)品引腳兼容，片內(nèi)置有8位中央處理器（CPU）。功能強大的AT89C52單片機適用于許多較為復(fù)雜的控制應(yīng)用場合。
