隨著集成電路集成度和復(fù)雜度的提高，電路板上的電子元器件也越來越多，電路也越來越復(fù)雜。一旦出現(xiàn)故障，采用傳統(tǒng)的接觸式診斷方法，既耗費時間又浪費金錢。而紅外熱像儀的出現(xiàn)，改變了這一現(xiàn)狀!
那么
紅外熱像儀是如何檢測電路板的呢?
恰好，F(xiàn)LIR與中華工控網(wǎng)近日
聯(lián)合舉辦了紅外熱像產(chǎn)品有獎體驗活動
來自某湖南學(xué)院的莫老師
正好使用FLIR E5紅外熱像儀
檢測了電路板的狀態(tài)
真實反映了紅外熱像儀檢測電路板的功效
下面請跟著小菲
進(jìn)入莫老師的產(chǎn)品體驗過程
看看FLIR E5的功效
使用場景描述：
這次試用，主要是對相關(guān)試驗設(shè)備、電路板進(jìn)行了檢測，包括有風(fēng)光互補(bǔ)設(shè)備、開發(fā)試驗電路板、單片機(jī)學(xué)習(xí)開發(fā)板等。
1.單片機(jī)學(xué)習(xí)開發(fā)板
平常的電路板試驗，可能會注意到元件的發(fā)熱情況，但通常那只是一種“感知”而不是“目測”——今天，就要直接用眼睛“看看”它的溫度。
圖1 電路板的熱圖像和可見光圖像對照
圖2 感興趣點的溫度(點測量)
通過圖1和圖2可以判定，單片機(jī)學(xué)習(xí)板體溫正常。因為單片機(jī)溫度最高的三個部位sp1、sp2和sp3，溫度都在正常范圍內(nèi)。
2.試驗電路板檢測
下面是一個32位閃存微控制器(STM32)最小系統(tǒng)，從圖像中看到，其溫度最高點不在芯片上;應(yīng)當(dāng)是由于電路板功耗不大，而整體溫度的區(qū)別也不大。
圖3
圖3是STM32及外圍電路，采用了混合紅外圖像和畫中畫圖像進(jìn)行比對。
3.風(fēng)光互補(bǔ)發(fā)電試驗設(shè)備的檢測
該設(shè)備是對光伏發(fā)電和風(fēng)力發(fā)電的模擬，由光伏供電裝置、風(fēng)力供電裝置、供電控制系統(tǒng)等組成;圖4～6為對其幾個部位的簡單觀察。
圖4
圖4是光伏供電系統(tǒng)局部，通過FLIR E5觀察兩塊電路板的發(fā)熱情況。
圖5
圖5為風(fēng)力供電系統(tǒng)局部，可看到Sp2處的溫度高達(dá)62℃;該數(shù)值即使由于儀表參數(shù)等設(shè)置不恰當(dāng)而存在測試偏差，但是因為測試條件一致，仍然可以作為參考比對。該點溫度較高，但從設(shè)備能夠正常工作來看，應(yīng)當(dāng)是在允許范圍內(nèi)，可見設(shè)備元器件需有一定耐環(huán)境性。
圖6
圖6是風(fēng)力供電裝置，左右兩圖顯示的最高溫度值不一致，是因為兩者的測試區(qū)域、測試點不一樣。通過紅外圖像可以判定，電機(jī)的熱度較為均勻，溫度只有30℃左右，風(fēng)力供電裝置正常運轉(zhuǎn)。
以上就是莫老師的產(chǎn)品體驗過程
那么FLIR E5功效如何呢
聽聽莫老師怎么說
感覺FLIR E5基本的操作較為簡便，它可以同時生成紅外圖像和可見光圖像、提供MSX圖像，這為觀察點在圖像上的定位和比對提供了方便;加之FLIR Tools軟件對圖像分析等，則更加強(qiáng)和延伸了熱像儀的功能。
這兩年與電路板打交道稍多，開始的想法是通過觀察電路板元件的發(fā)熱狀態(tài)，有效地掌握電路板的工作情況，為評測設(shè)計制版效果改進(jìn)點提供依據(jù)。比如，可以觀察到虛焊等引起的異常發(fā)熱、散熱效果、輻射熱的影響等，在產(chǎn)品開發(fā)、維修中均可應(yīng)用。
但FLIR E5的應(yīng)用不止于此，根據(jù)其檢測原理，諸如管路檢漏、食品的發(fā)酵過程、食品腐敗前兆監(jiān)測，或者是疾病的觀察、診斷等，凡屬伴隨有發(fā)熱反應(yīng)、或溫度不均勻的現(xiàn)象，或許都可以嘗試。
其實，不僅僅于此，F(xiàn)LIR E5紅外熱像儀功能強(qiáng)大，采用 MSX ? 技術(shù)，能夠提供非同一般的熱成像細(xì)節(jié)，獲得精確的溫度測量結(jié)果;
而且，F(xiàn)LIR E5還具有Wi-Fi連接功能，能通過FLIR Tools移動應(yīng)用程序，連接至智能手機(jī)和平板電腦，可以輕松地分享圖像、發(fā)送報告;
另外，F(xiàn)LIR E5簡單易用，且價格極為經(jīng)濟(jì)實惠，可謂是是建筑、電氣和機(jī)械應(yīng)用領(lǐng)域的，理想故障排除工具。
