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　　本文描述了晶體硅太陽能電池片局部漏電現象，分析了晶體硅硅片及電池生產過程中可能產生的漏電原因及預防措施。電池生產過程中刻蝕不完全或未刻蝕、點狀燒穿和印刷擦片或漏漿等情況會產生漏電，嚴重影響電池片的品質，另外發現Si3N4顆粒、多晶硅晶界等也有可能造成電池片漏電。

　　太陽能發電由于其具有環保、高效、節能以及取之不盡、用之不竭等特點，已成為新能源中最受矚目的能源。太陽能電池是一個巨大的半導體二極管，以半導體材料為基礎進行能量轉換。目前，光伏行業中晶體硅太陽能電池還是占主導位置。

    晶體硅太陽電池主要分為兩種，一種是將圓柱形的單晶硅棒切割成單晶硅片；一種是通過鑄錠方式生成多晶硅片。單晶硅棒和多晶鑄錠的質量很大程度上可以影響晶體硅電池片的質量。隨著晶體硅電池利用的日益廣泛，晶體硅太陽電池局部漏電問題逐漸受到人們的關注與重視。因此晶體硅電池漏電原因的分析與討論成為晶體硅電池研究的熱點之一。

　　在晶體硅太陽電池生產過程中，部分晶體硅太陽電池難免會因為各種原因導致局部漏電，甚至短路。晶體硅片在制作生產過程中導致局部漏電主要原因為1）通過PN結的漏電流；2）沿電池邊緣的表面漏電流；3）金屬化處理后沿著微觀裂紋或晶界形成的微觀通道的漏電流。本文主要探究了晶體硅電池漏電的原因，并進行具體分析。

　　一、晶體硅太陽電池工作原理

　　如圖1所示，當處于開路的情況下，當光生電流和正向電流相等的時候，則由于電子和空穴分別流入N區和P區，使N區的費米能級比P區的費米能級高，在這兩個費米能級之間，P-N結兩端將建立起穩定的電勢差Voc（P區為正，N區為負）。如果將外電路短路，則外電路中就有與入射光能量成正比的光電流流過，這個電流稱作短路電流，只要光生電流不停止，就會有源源不斷的電流通過電路，P-N結起到了一個電源的作用。這就是太陽能電池的工作原理。

　　圖2是利用P/N結光生伏特效應做成的理想光電池的等效電路圖。

　　圖中把光照下的p-n結看作一個理想二極管和恒流源并聯，恒流源的電流即為光生電流IL，由于前面和背面的電極和接觸，以及材料本身具有一定的電阻率，基區和頂層都不可避免的要引入附加電阻。流經負載的電流，經過它們時，必然引起損耗。在等效電路中，可將它們的總效果用一個串聯電阻RS來表示。由于電池邊沿的漏電和制作金屬化電極時，在電池的微裂紋、劃痕等處形成的金屬橋漏電等，使一部分本應通過負載的電流短路，這種作用的大小可用一并聯電阻RSH來等效。本文主要研究的就是在實際太陽電池生產中的漏電原因。